Bundespatentgericht, Beschluss vom 10.07.2012, Az. 17 W (pat) 24/08

[X.]ie vorliegende Patentanmeldung wurde am 23. [X.]ezember 2004 beim [X.] eingereicht. Sie trägt die [X.]ezeichnung

"Verfahren zur adaptiven Klassifizierung von Werkstücken".

[X.]ie Anmeldung wurde von der Prüfungsstelle für [X.] des [X.]es mit der [X.]egründung zurückgewiesen, dass die jeweiligen [X.]egenstände nach dem Patentanspruch 1 gemäß [X.]aupt- und [X.]ilfsantrag vom 19. Juni 2007 nicht auf erfinderischer Tätigkeit beruhen.

[X.]egen diesen [X.]eschluss ist die [X.]eschwerde der Anmelderin gerichtet.

[X.]ie Anmelderin beantragt,

den angegriffenen [X.]eschluss aufzuheben und das nachgesuchte Patent mit folgenden Unterlagen zu erteilen:

gemäß [X.]auptantrag mit

Patentansprüchen 1 - 11 vom Anmeldetag,

[X.]eschreibung, Seite 1 vom Anmeldetag,

Seiten 2, 2a vom 23. [X.]ezember 2005, eingegangen am 2. Januar 2006,

Seiten 3 bis 8 vom Anmeldetag,

Seite 9 vom 13. Januar 2008, eingegangen am 13. Januar 2008,

Seiten 10 bis 16 vom Anmeldetag,

3 [X.]latt Zeichnungen mit 3 Figuren vom Anmeldetag,

gemäß [X.]ilfsantrag mit

Patentanspruch 1 vom 13. Januar 2008, eingegangen am 13. Januar 2008,

Patentansprüche 2 bis 11 vom Anmeldetag,

im Übrigen wie [X.]auptantrag.

Im Prüfungsverfahren vor dem [X.] sind die [X.]ruckschriften

[X.]1 [X.] 34 31 609 [X.]1,

[X.]2 [X.] 42 17 007 A1

und

[X.]3 [X.]INAR, A; UN[X.]Y, [X.]: Statistical process and controller performance monitoring. [X.]. In: [X.], 1999. ISSN 0743-1619. Piscataway: [X.], 1999, [X.], S. 2625 - 2639

genannt worden.

Zu den [X.]inzelheiten wird auf die Akte verwiesen.

[X.]auptantrag, hier mit einer möglichen [X.]liederung versehen, lautet:

"Verfahren zur adaptiven Klassifizierung von Werkstücken in zumindest eine [X.]ut-[X.]ruppe und eine [X.], die folgenden Schritte umfassend:

(A) Auswahl eines oder mehrerer [X.]ütemerkmale;

([X.]) [X.]rmitteln einer Vielzahl von Messwerten für die ausgewählten [X.]ütemerkmale an Musterwerkstücken;

([X.]) Zusammenfassung der ausgewählten [X.]ütemerkmale zu einem [X.]ütemerkmalvektor;

([X.]) Parametrieren eines Auffälligkeitserkennungsbereichs durch [X.]estimmen einer oberen und einer unteren Auffälligkeitsgrenze und einer oberen und einer unteren [X.]ingreifgrenze, die innerhalb des durch die obere und untere Auffälligkeitsgrenze eingeschlossenen [X.]ereichs liegen, für jedes [X.]ütemerkmal des [X.]ütemerkmalvektors;

([X.]) [X.]rmitteln der Messwerte für die ausgewählten [X.]ütemerkmale an den zu prüfenden Werkstücken;

(F) [X.]inordnen der geprüften Werkstücke in die [X.]ut-[X.]ruppe, wenn die im Schritt ([X.]) ermittelten Messwerte für jedes [X.]ütemerkmal innerhalb der Auffälligkeitsgrenzen liegen, und in die [X.], wenn die Auffälligkeitsgrenzen überschritten werden;

([X.]) fortlaufendes [X.]rmitteln einer oder mehrerer Kenngrößen, die für die [X.]estimmung der oberen und unteren Auffälligkeitsgrenze genutzt wurden, während der Prüfung der Werkstücke;

([X.]) Adaption des Auffälligkeitserkennungsbereichs, wenn die im Schritt ([X.]) ermittelte Kenngröße nicht mehr zwischen der oberen und unteren [X.]ingreifgrenze liegt, durch erneutes Ausführen des Schritts ([X.]) unter [X.]inbeziehung der fortlaufend ermittelten Kenngrößen;

(I) Fortsetzung der Überprüfung der Werkstücke gemäß den Schritten ([X.]) bis ([X.]) unter Anwendung des adaptierten Auffälligkeitserkennungsbereichs."

Zu den [X.] 2 bis 11 wird auf die Akte verwiesen.

[X.]er geltende Patentanspruch 1 gemäß [X.]ilfsantrag, hier mit einer möglichen [X.]liederung versehen, lautet (Unterschiede zum Patentanspruch 1 gemäß [X.]auptantrag unterstrichen):

"Verfahren zur adaptiven Klassifizierung von Werkstücken in zumindest eine [X.]ut-[X.]ruppe und eine [X.], die folgenden Schritte umfassend:

(A) Auswahl eines oder mehrerer [X.]ütemerkmale;

([X.]*) [X.]rmitteln einer Vielzahl von Messwerten für die ausgewählten [X.]ütemerkmale an Musterwerkstücken, von denen eine überwiegende Anzahl der [X.]ut-[X.]ruppe angehört;

([X.]) Zusammenfassung der ausgewählten [X.]ütemerkmale zu einem [X.]ütemerkmalvektor;

([X.]*) Parametrieren eines Auffälligkeitserkennungsbereichs durch [X.]estimmen einer oberen und einer unteren Auffälligkeitsgrenze und einer oberen und einer unteren [X.]ingreifgrenze, die innerhalb des durch die obere und untere Auffälligkeitsgrenze eingeschlossenen [X.]ereichs liegen, für jedes [X.]ütemerkmal des [X.]ütemerkmalvektors anhand einer statistischen Analyse des [X.]ütemerkmalsvektors;

([X.]) [X.]rmitteln der Messwerte für die ausgewählten [X.]ütemerkmale an den zu prüfenden Werkstücken;

(F) [X.]inordnen der geprüften Werkstücke in die [X.]ut-[X.]ruppe, wenn die im Schritt ([X.]) ermittelten Messwerte für jedes [X.]ütemerkmal innerhalb der Auffälligkeitsgrenzen liegen, und in die [X.], wenn die Auffälligkeitsgrenzen überschritten werden;

([X.]) fortlaufendes [X.]rmitteln einer oder mehrerer Kenngrößen, die für die [X.]estimmung der oberen und unteren Auffälligkeitsgrenze genutzt wurden, während der Prüfung der Werkstücke;

([X.]) Adaption des Auffälligkeitserkennungsbereichs, wenn die im Schritt ([X.]) ermittelte Kenngröße nicht mehr zwischen der oberen und unteren [X.]ingreifgrenze liegt, durch erneutes Ausführen des Schritts ([X.]*) unter [X.]inbeziehung der fortlaufend ermittelten Kenngrößen;

(I) Fortsetzung der Überprüfung der Werkstücke gemäß den Schritten ([X.]) bis ([X.]) unter Anwendung des adaptierten Auffälligkeitserkennungsbereichs."

Zu den [X.] 2 bis 11 wird wieder auf die Akte verwiesen.

Aufgabe zugrunde liegen, Werkstücke bei der Prüfung in eine [X.]ut- und eine [X.] zu klassifizieren, wobei vor [X.]eginn der Prüfung keine [X.] zur Aussonderung in die [X.] festgelegt bzw. bekannt sind. [X.]ine Teilaufgabe soll in der automatisierten Adaption der festgelegten [X.] bei sich ändernden Prozessbedingungen bestehen (siehe [X.]eschwerdebegründung, Seite 5, letzter Absatz - Seite 6, erster Absatz).

Mit Schriftsatz vom 4. Mai 2012 führte der Senat aus, dass der mit der [X.]eschwerdebegründung eingereichte [X.]aupt- und [X.]ilfsantrag nicht gewährbar sein dürften, weil ihre jeweiligen [X.]egenstände nach Patentanspruch 1 u. a. nicht auf erfinderischer Tätigkeit beruhen würden.

[X.]ie Anmelderin vertritt die Auffassung, dass es beim [X.]egenstand der Anmeldung für eine Reaktion auf sich ändernde Prozessbedingungen gerade nötig sei, im Prozess Werkstücke fortlaufend zu prüfen und die Messwerte für eine Adaption des Auffälligkeitserkennungsbereichs heranzuziehen, also auch auf den eigentlichen Prüfprozess rückzukoppeln. [X.]ies gehe über die reine [X.]rfassung und Sortierung von [X.]aten klar hinaus.

[X.]er beanspruchte [X.]egenstand sei nicht nur dem Patentschutz grundsätzlich zugänglich, er sei darüber hinaus auch neu und beruhe auf erfinderischer Tätigkeit.

[X.]ie [X.]eschwerde wurde rechtzeitig eingelegt und ist auch sonst zulässig. Sie hat jedoch keinen [X.]rfolg, weil die jeweiligen [X.]egenstände nach Patentanspruch 1 gemäß [X.]aupt- und [X.]ilfsantrag bei [X.]erücksichtigung nur derjenigen Anweisungen, die die Lösung eines technischen Problems mit technischen Mitteln bestimmen oder zumindest beeinflussen ([X.][X.][X.] [X.]RUR 2011, 125 – Wiedergabe topografischer Informationen), nicht auf einer erfinderischen Tätigkeit beruhen (§ 4 Satz 1 Pat[X.]).

1. [X.]ie vorliegende Patentanmeldung betrifft ein Verfahren zur adaptiven Klassifizierung von Werkstücken.

Laut [X.]eschreibung liege die [X.]auptanwendung des beschriebenen Verfahrens im [X.]ereich der automatisierten Qualitätsprüfung, wobei sich auch atypische Änderungen an geprüften Werkstücken analysieren und bei der [X.]ütebewertung berücksichtigen lassen würden.

Werkstücke oder [X.]auteile würden in den unterschiedlichsten [X.]ereichen der Technik einer [X.]üteprüfung unterworfen. [X.]as jeweilige Werkstück bzw. [X.]auteil werde in der Regel bewertet, indem einzelne [X.]e gemessen würden, die dann auch mit computergestützten Analyseverfahren ausgewertet werden könnten. [X.]ie angewandten Verfahren würden über die [X.]üte des Werkstücks entscheiden bzw. darüber, ob das Werkstück in eine [X.]ut-[X.]ruppe oder in eine [X.] eingeordnet werde, d. h. ob das Werkstück fehlerfrei oder fehlerbehaftet sei.

[X.]ie [X.]ewertung von ausgewählten und gemessenen [X.]en erfolge üblicherweise mit [X.]ilfe von [X.], d. h. mit Methoden und Kriterien zur [X.]inteilung von Objekten in Klassen.

[X.]ie Anmeldung führt im Weiteren aus, die aus dem Stand der Technik bekannten Klassifikationssysteme seien nicht oder nur sehr eingeschränkt in der Lage, zeitliche Veränderungen im Wertebereich ausgewählter [X.]e aufgrund von aus dem Fertigungsprozess resultierenden [X.]inflüssen zu berücksichtigen. Solche Veränderungen könnten z. [X.]. hervorgerufen werden durch [X.] oder auch durch zeitliche Änderungen von Umgebungsbedingungen (Temperatur, [X.]ruck) in einer Fertigungsstrecke. Weiterhin könnten Änderungen von auf die [X.]üte einwirkenden [X.] auftreten, wie z. [X.]. Materialvorschub und Materialart.

Zur Verbesserung dieser Situation wird im Wesentlichen vorgeschlagen, zu den jeweiligen [X.]en, welche die zu überprüfenden Werkstücke charakterisieren, Verteilungsdichtefunktionen zu bestimmen, welche durch die jeweiligen Kenngrößen (Mittelwerte, Standardabweichungen) vollständig beschrieben werden können. [X.]ei den Kenngrößen handelt es sich um "gleitende Kenngrößen", die über die Anzahl der zu untersuchenden Werkstücke hinweg mitgeführt und angepasst werden. Sie legen u. a. die [X.] für die jeweiligen [X.]e dynamisch fest, nach denen ein Werkstück klassifiziert wird.

Fachmann, der mit der Aufgabe betraut wird, ein Klassifizierverfahren in einer Prozesssteuerung zu verbessern, sieht der Senat einen Ingenieur mit Fachhochschul- oder [X.]ochschulabschluss an, welcher über eine mehrjährige [X.]erufserfahrung im [X.]ereich der statistischen Prozesslenkung verfügt und fundierte Kenntnisse in der Anwendung von Algorithmen auf dem [X.]ebiet der Qualitätssicherung und Statistik besitzt.

2. Zum [X.]auptantrag

[X.]em [X.]auptantrag konnte nicht gefolgt werden, weil der [X.]egenstand seines Patentanspruchs 1 nicht auf einer erfinderischen Tätigkeit beruht (§ 4 Satz 1 Pat[X.]).

2.1 Als Stand der Technik sind die [X.]ruckschriften [X.]1 und [X.]3 besonders zu berücksichtigen. Sie zeigen Folgendes:

[X.]1 offenbart ein Verfahren zur Qualitätsklassifikation eines auf einem Prüfstand zu prüfenden Produkts. Anhand von einfach messbaren [X.]aten sollen zu prüfende Produkte auf gut oder fehlerhaft sowie hinsichtlich ihrer einzelnen Qualitätsmerkmale unterschieden werden. [X.]abei sollen die als fehlerhaft klassifizierten Produkte einen [X.]inweis auf Fehlerart, -ort und ggfs. –größe erhalten. Für diesen Zweck werden m messbare Merkmale des zu prüfenden Produkts aufgenommen, die über verschiedene Funktionen des Produkts beschreibende mathematische [X.]leichungen mit insgesamt n Parametern in [X.]eziehung stehen (Spalte 3, Zeilen 36-50). Im bekannten Verfahren werden zunächst die Werte der n Parameter von fehlerfreien Produkten einer Klasse von guten Produkten und die Werte der n Parameter der mit vorausbestimmten Fehlern behafteten Produkte einer oder mehreren Klassen von fehlerhaften Produkten zugeordnet. [X.]ie n Parameter bilden Sequenzen, die in einem Speicher listenförmig abgespeichert werden (Spalte 3, Zeilen 26-35). In einem weiteren Schritt werden die Werte der n Parameter eines zu [X.], den Prüfstand durchlaufenden Produkts anhand der m im Prüfstand gemessenen Merkmale unter Verwendung der mathematischen [X.]leichungen von einem Rechner errechnet. [X.]ie sich daraus ergebende Sequenz der das geprüfte Produkt kennzeichnenden Parameterwerte wird dann mit den Sequenzen der abgespeicherten Liste verglichen. [X.]ei Übereinstimmung der errechneten mit einer der abgespeicherten Sequenzen wird das geprüfte Produkt in die der abgespeicherten Sequenz zugeordneten Klasse eingeordnet (Spalte 3, Zeilen 51-66). Kann keine Übereinstimmung der errechneten Sequenz mit irgendeiner der abgespeicherten Sequenzen festgestellt werden, dann wird das geprüfte Produkt ohne Klassenzuordnung als fehlerhaft bewertet (Spalte 3, Zeilen 62-66). Für jeden Parameterwert wird ein Toleranzbereich festgelegt (Spalte 4, Zeilen 5-10).

[X.]3 beschreibt zusammengefasst die theoretischen [X.]rundlagen für verschiedene Methoden aus der statistischen Prozesslenkung (Shewhart, [X.]USUM, [X.]WMA). Sie zeigt insbesondere die Abhängigkeiten der relevanten Kenngrößen sowie deren [X.]edeutung im Monitoring von Prozessen auf (Seiten 2626-2627 u. a.).

2.2 [X.]as Verfahren nach dem Patentanspruch 1 gemäß [X.]auptantrag beruht nicht auf erfinderischer Tätigkeit (§ 4 Satz 1 Pat[X.]).

[X.]er geltende Patentanspruch 1 ist auf ein "Verfahren zur adaptiven Klassifizierung von Werkstücken in zumindest eine [X.]ut-[X.]ruppe und eine [X.]" gerichtet.

[X.]1 ist ein vergleichbares Verfahren entnehmbar, mit dem Werkstücke, z. [X.]. [X.]lektromotoren, in eine [X.]ut- und eine [X.] eingeteilt werden können (Spalte 1, Zeilen 55-58; Spalte 3, Zeilen 36-50; Spalte 3, Zeilen 59-66; Spalte 3, Zeile 67 - Spalte 4, Zeile 4).

(A)) und zu einem aus diesen Merkmalen bestehenden Tupel zusammengefasst. [X.]er so bestimmte Vektor umfasst n Parameter, die z. [X.]. im Fall eines [X.]lektromotors den Kupferwiderstand, den [X.]isenwiderstand im [X.]lechpaket, die Wicklungsinduktivitäten oder die [X.]urchflutungen beschreiben. [X.]ie n Parameter bilden dabei spezielle Sequenzen, die in einem Speicher hinterlegt werden (Spalte 3, Zeilen 33-35 - Merkmal ([X.])). [X.]em [X.]inwand der Anmelderin, die [X.]1 gebe keinerlei [X.]inweis auf die [X.]ildung eines [X.]ütemerkmalvektors, kann somit nicht gefolgt werden.

[X.]1 werden für die ausgewählten [X.]ütemerkmale zunächst an Musterwerkstücken Messwerte ermittelt. [X.]ei den Musterwerkstücken handelt es sich sowohl um fehlerfreie [X.]lektromotoren als auch um Motoren, die mit vorausbestimmten Fehlern behaftet sind (Spalte 3, Zeilen 26-35 - Merkmal ([X.])). [X.]ie [X.]rmittlung der Messwerte an Musterwerkstücken entspricht einer Anlernphase für die sich anschließende Qualitätsklassifikation der zu prüfenden Motoren.

[X.]1 durch einen Toleranzbereich gegeben, der für jeden einzelnen Parameter festgelegt wird, z. [X.]. auch für die Parameterwerte eines fehlerfreien [X.] (Spalte 3, Zeile 67 - Spalte 4, Zeile 10; Spalte 5, Zeilen 11-18 - Teile von Merkmal ([X.])). [X.]er Toleranzbereich eines Parameters für die Klasse von guten Motoren bezeichnet nichts anderes als seine Abweichung von einem Normzustand, nach dem der Motor noch als fehlerfrei einzustufen ist. [X.]ie Anmelderin bemerkt allerdings zu Recht, dass der Toleranzbereich der [X.]1 nicht ausdrücklich in [X.]eziehung zu statistischen Kenngrößen, wie Mittelwerten oder Standardabweichungen, gesetzt und dementsprechend auch berechnet wird.

[X.]1 werden weiterhin an den zu prüfenden [X.]lektromotoren für die ausgewählten [X.]ütemerkmale Messwerte ermittelt (Spalte 3, Zeilen 36-50 - Merkmal ([X.])).

(F)).

[X.]1 kann der Auffälligkeitserkennungs- bzw. Toleranzbereich angepasst werden (Spalte 5, Zeilen 2-18 - Teile von Merkmal ([X.])). [X.]ie Anpassung erfolgt jedoch nicht auf [X.]asis fortlaufend ermittelter Kenngrößen und auch nicht automatisiert.

[X.]1 noch darauf hingewiesen, dass die Überprüfung der Motoren mit [X.]ilfe des angepassten Auffälligkeitserkennungsbereichs fortgesetzt werden kann (Spalte 5, Zeilen 7-10 - Merkmal (I)).

[X.]3 ein Verfahren zur statistischen Prozessführung bekannt, in dem Auffälligkeitserkennungsbereiche ermittelt werden, welche untere und obere Auffälligkeitsgrenzen sowie untere und obere [X.]ingreifgrenzen beinhalten. [X.]ie [X.]ingreifgrenzen liegen hierbei innerhalb des durch die untere und obere Auffälligkeitsgrenze eingeschlossenen [X.]ereichs (Seite 2626, linke Spalte, zweiter Absatz - letzter Absatz; siehe insbesondere Abschnitte "Selection of [X.]ontrol limits" und "Warning limits" - restliche Teile von Merkmal ([X.])).

[X.]3 hervor, eine oder mehrere Kenngrößen fortlaufend zu ermitteln, welche für eine [X.]estimmung der Auffälligkeitsgrenzen genutzt werden. [X.]er Auffälligkeitserkennungsbereich wird unter [X.]inbeziehung der fortlaufend ermittelten Kenngrößen angepasst (Seite 2626, rechte Spalte, vorletzte Zeile - Seite 2627, linke Spalte, dritte Zeile; siehe "The control limits computations are based on averages and values of S …"; Seite 2627, linke Spalte, letzter Absatz - rechte Spalte, dritter Absatz, siehe "The [X.]USUM can be computed recursively…" - Merkmal ([X.]) + Teile von Merkmal ([X.])). [X.]abei treffen die in der [X.]3 getroffenen Aussagen über Auffälligkeitsgrenzen ("[X.]ontrol limits" und "Warning Limits") mit Standardabweichungen und "S-[X.]rößen" in ihrer Allgemeinheit ebenso auf die in der [X.]3 angeführte "[X.] und [X.]USUM-Methode zu, so dass diese Methoden und ihre Merkmale entgegen der Auffassung der Anmelderin nicht notwendigerweise getrennt voneinander zu betrachten und zu bewerten sind, sondern in einem einheitlichen Kontext zueinander stehen.

[X.]3 stoßen, welche Verfahren für das Monitoring eines statistischen Prozesses lehrt, welche nicht nur die [X.]ewertung des Prozessstatus sondern auch die Steuerung einer Produktqualität unterstützen.

[X.]1 bekannte System zur Qualitätsklassifikation um statistische Methoden nach dem Vorbild der [X.]3 zu erweitern, welche die Sammlung, Analyse und Interpretation von Messwerten bzw. deren Kenngrößen betreffen, damit Abweichungen eines Prozesses vom gewünschten Ablauf nicht nur qualitativ sondern auch quantitativ dynamisch erfasst werden können.

[X.]1 und [X.]3 ergibt sich somit ein Verfahren zur adaptiven Klassifizierung von Werkstücken in zumindest eine [X.]ut-[X.]ruppe und eine [X.] mit den Merkmalen (A) bis ([X.]) sowie (I) und Teilen von Merkmal ([X.]), welches insbesondere gemäß [X.]1 Spalte 5 auch bereits eine Anpassung der Klassifikationsgrenzen vorsieht.

([X.]) in der [X.]inführung eines Kriteriums, wonach die Anpassung des Auffälligkeitsbereichs immer dann erfolgt, wenn die im Merkmal ([X.]) ermittelte Kenngröße nicht mehr zwischen der oberen und unteren [X.]ingreifgrenze liegt.

[X.]ie [X.]erücksichtigung eines solchen Kriteriums dient allein dem Zweck, statistische signifikante Veränderungen im Prozess zu erfassen, die sich auch in den relevanten Kenngrößen widerspiegeln. [X.]ie [X.]estimmung und [X.]erücksichtigung von [X.]ingreifgrenzen als Schwellenwerte beruht dabei allein auf statistischen Überlegungen. [X.]urch das genannte (Teil-)Merkmal wird keine Anweisung zur Lösung eines technischen (Teil-)Problems gegeben, weswegen dieses Merkmal bei der Prüfung auf erfinderischer Tätigkeit nicht zu berücksichtigen ist ([X.][X.][X.] [X.]RUR 2011, 125 - Wiedergabe topografischer Information, Leitsatz b).

2.3 [X.]er [X.]egenstand des Patentanspruchs 1 gemäß [X.]auptantrag beruht nach alledem nicht auf einer erfinderischen Tätigkeit. Mit dem Patentanspruch 1 fallen zwangsläufig auch die übrigen Patentansprüche, da über einen Antrag nur einheitlich entschieden werden kann.

3. Zum [X.]ilfsantrag

[X.]er [X.]egenstand des Patentanspruchs 1 nach [X.]ilfsantrag geht in technischer [X.]insicht nicht über die Lehre des Patentanspruchs 1 nach [X.]auptantrag hinaus, so dass auch der [X.]ilfsantrag erfolglos bleiben musste.

3.1 [X.]er Patentanspruch 1 nach [X.]ilfsantrag unterscheidet sich von Patentanspruch 1 nach [X.]auptantrag in den Merkmalen ([X.]) und ([X.]), die jetzt lauten:

([X.]*) "[X.]rmitteln einer Vielzahl von Messwerten für die ausgewählten [X.]ütemerkmale an Musterwerkstücken, von denen eine überwiegende Anzahl der [X.]ut-[X.]ruppe angehört;"

und

([X.]*) "Parametrieren eines Auffälligkeitserkennungsbereichs durch [X.]estimmen einer oberen und einer unteren Auffälligkeitsgrenze und einer oberen und einer unteren [X.]ingreifgrenze, die innerhalb des durch die obere und untere Auffälligkeitsgrenze eingeschlossenen [X.]ereichs liegen, für jedes [X.]ütemerkmal des [X.]ütemerkmalvektors anhand einer statistischen Analyse des [X.]ütemerkmalsvektors."

([X.]*) vornehmlich der [X.]ut-[X.]ruppe angehören sollen, ist aber eine Maßnahme aus der Statistik, um in [X.]inblick auf die Stichprobenanalyse geeignete Ausgangswerte für die Kenngrößen der einzelnen [X.]ütemerkmale zu erhalten.

([X.]*) beinhaltet nichts anderes als die Wahl einer geeigneten Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion sowie die [X.]rmittlung von Mittelwerten und Standardabweichungen.

([X.]) und ([X.]) nach Patentanspruch 1 gemäß [X.]auptantrag haben allenfalls einen [X.]ezug zur Statistik bzw. Mathematik. Ihnen liegen keine technischen Überlegungen zugrunde, so dass sie bei der Prüfung auf erfinderische Tätigkeit nicht zu berücksichtigen sind.

3.2 Patentanspruch 1 gemäß [X.]ilfsantrag kann deshalb nicht anders als der Patentanspruch 1 gemäß [X.]auptantrag beurteilt werden, weil der darüber hinaus gehenden Lehre keine Anweisungen zur Lösung eines technischen Problems mit technischen Mitteln entnehmbar sind. Mit dem Patentanspruch 1 fallen ebenfalls die Patentansprüche 2 bis 11.

Nachdem keiner der gestellten Anträge [X.]rfolg hatte, war die [X.]eschwerde des Anmelders gegen den Zurückweisungsbeschluss der Prüfungsstelle für [X.] des [X.]es zurückzuweisen.